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EPK MiniTest 720/730/740涂层测厚仪
EPK MiniTest 720/730/740涂层测厚仪

SIDSP技术-全球最新技术,智能数字化的涂层测厚探头 
模拟信号处理时代已成过去,数字信号处理将成为未来的趋势
MiniTest 720/730/740涂层测厚仪采用的SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,世界领先的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界顶尖技术生产。
MiniTest 720/730/740涂层测厚仪的SIDSP工作原理?
跟传统技术不同,SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号,回传的信号经过32位数字转换和处理,带给您精确的涂层厚度值。此项尖端的数字处理技术,同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面,如数字滤波器,基带转换,平均值,随机分析,等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和精确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比,具有决定性的优势,为涂层测厚设定了一个新的标准。

MiniTest 720/730/740涂层测厚仪SIDSP N和FN型探头基体导电性补偿
由于使用了EPK特殊的自动补偿方法,SIDSP电涡流探头可以适应多种导电性不同的非铁基体材料,如铜,钛,等等,无需特别在基体上校准仪器。
 
MMiniTest 720/730/740涂层测厚仪优点一览:
-SIDSP使测量不受干扰,测值更加精确
-可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740探头可由内置换为外置)
-FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高精确度的特征曲线
-大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
-菜单指引操作,25种语言可选
-带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件 

MiniTest 720/730/740涂层测厚仪技术数据表